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近場探頭

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概述

近場探頭由TH20H10H5E5是磁場(H)和電場(E)探頭,用于輻射發射EMC預一致性測量。探頭用于電磁輻射源的近場。它們用于在電子組件的構造塊中定位和識別潛在的干擾源。近場探頭的作用類似于寬帶天線,用于拾取組件,PCB跡線,外殼開口或縫隙以及可能發射射頻的任何其他部件的輻射。近場探頭通常連接到頻譜分析儀。

近場探頭可用于維修或調試領域,以通過減少接觸式RF測量來跟蹤RF信號鏈中的問題。信號電平。另一種應用是對射頻構件(例如調制器或振蕩器)的無創測量。頻率,相位噪聲和頻譜分量可以與低噪聲前置放大器一起測量。

 

探頭尺寸:

探頭

尺寸

環尺寸

環長

H20 磁場探頭

170mm

20 mm

N.A.

H10 磁場探頭

170mm

10 mm

N.A.

H5 磁場探頭

170mm

5 mm

N.A.

E5 電場探頭

170mm

N.A.

5 mm

 

頻率響應:

耦合衰減:

 

 

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