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TBPS01-TBWA2/20dB近場探頭30K-6G

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TBPS01-TBWA2/20dB近場探頭30K-6G TH20H10H5E5是磁場(H)和電場(E)探頭,用于輻射發射EMC預一致性測量。探頭用于電磁輻射源的近場。

TBPS01-TBWA2/20dB近場探頭30K-6G它們用于在電子組件的構造塊中定位和識別潛在的干擾源。這些探針的作用類似于寬帶天線,用于拾取組件,PCB跡線,外殼開口或縫隙以及可能發射射頻的任何其他部件的輻射。探頭通常連接到頻譜分析儀。在PCB組件或外殼的表面上掃描探針可以快速確定發出電磁輻射的位置。通過更換為較小尺寸的探頭,可以進一步縮小發射源的范圍。

其他應用是通過將RF信號饋入探頭并將其輻射到潛在敏感的電路部分中來進行RF抗擾度測試:此外,探頭可用于維修或調試領域,以通過減少接觸式RF測量來跟蹤RF信號鏈中的問題,信號電平。另一種應用是對射頻構件(例如調制器或振蕩器)的非接觸測量。可以結合低噪音前置放大器測量頻率,相位噪聲和頻譜分量。

TBWA2/20dB TBWA2/40db 寬帶放大器連接在 EMC 探頭和頻譜分析儀之間,以增加測量的動態范圍

特點:

頻率范圍高達6GHz、 絕緣橡膠涂層、 可選具有20dB40dB增益的寬帶放大器

纖薄的設計便于進行緊密相隔器件之間的測量、 SMB連接器可避免在掃描DUT時扭曲RF線纜

屏蔽回路可避免拾取共模噪音,對人手不敏感

探頭尺寸:

探頭

尺寸

環尺寸

環長

H20 磁場探頭

170mm

20 mm

N.A.

H10 磁場探頭

170mm

10 mm

N.A.

H5  磁場探頭

170mm

5 mm

N.A.

E5  電場探頭

170mm

N.A.

5 mm



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